A. Kirk;
I.T. Chapman;
T.E. Evans;
C. Ham;
J.R. Harrison;
G. Huijsmans;
Y. Liang;
Y.Q. Liu;
A. Loarte;
W. Suttrop;
A.J. Thornton;
JET EFDA contributors;
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M.E. Fenstermacher;
M. Becoulet;
P. Cahyna;
J. Canik;
C.S. Chang;
T.E. Evans P. Gohil;
S. Kaye;
A. Kirk;
Y. Liang;
A. Loarte;
R. Maingi;
O. Schmitz;
W. Suttrop;
H.R. Wilson;
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JET EFDA contributors;
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E. Nardon;
A. Kirk;
N. Ben Ayed;
M. Bécoulet;
G. Huysmans;
P.R. Thomas;
H.R. Koslowski;
Y. Liang;
P. Cahyna;
T.E. Evans;
JET EFDA contributors;
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M. Bécoulet;
G. Huysmans;
Y. Sarazin;
X. Garbet;
Ph. Ghendrih;
F. Rimini;
E. Joffrin;
X. Litaudon;
P. Monier-Garbet;
J.-M. Ané;
P. Thomas;
A. Grosman;
V.Parail;
H. Wilson;
P. Lomas;
P. deVries;
K.-D. Zastrow;
G.F. Matthews;
J. Lonnroth;
S. Gerasimov;
S. Sharapov;
M. Gryaznevich;
G. Counsell;
S.Fielding;
A. Kirk;
M. Valovic;
R. Buttery;
A. Loarte;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Leonard;
P. Snyder;
L.L. Lao;
P. Gohil;
T.E. Evans;
R.A. Moyer;
Y Kamada;
A Chankin;
N. Oyama;
T. Hatae;
N. Asakura;
O. Tudisco;
E. Giovannozzi;
F. Crisanti;
C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
T. Eich;
A. Sips;
L. Horton;
A. Hermann;
P. Lang;
J. Stober;
W. Suttrop;
P. Beyer S. Saarelma;
JET EFDA Contributors;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. deBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachan;
M. Tokar;
B. Unterberg;
M. von Hellerman;
M.R. Wade;
JET EFDA Contributors;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. DeBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D.L. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachen;
M. Tokar;
B. Uunterberg;
M. vonHellerman;
M.R. Wade;
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